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通流量(峰值電流)Im
通流容量(kA)也稱通流量,是指在規(guī)定的條件(規(guī)定的時(shí)間間隔和次數(shù),施加標(biāo)準(zhǔn)的沖擊電流)下,允許通過壓敏電阻器上的脈沖(峰值)電流值。目前大多數(shù)廠家在說明書中通常給出兩個通流量指標(biāo),一個是沖擊一次的指標(biāo),另一個是沖擊兩次(間隔5分鐘)的指標(biāo)。
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掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡,SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電鏡。與透射電鏡的成像方式不同,掃描電鏡是用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號可以是二次電子(被入射電子轟擊出來的樣品核外電子)、背散射電子(被固體樣品中原子反射回來的一部分入射電子)或吸收電子。其中二次電子為主要的成像信號。現(xiàn)以二次電子像的成像過程來說明掃描電鏡的工作原理。由電子槍發(fā)射的能量為5-35KeV的電子,以其交叉斑作為電子源,經(jīng)二級聚光鏡及物鏡的縮小形成
具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束,在掃描線圈驅(qū)動下,于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序作柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用,產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其他物理信號),二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換成電訊號,經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極,調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。
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